?立式光學(xué)計測量軸徑的原理主要基于光學(xué)放大和機(jī)械測量相結(jié)合，具體步驟如下：

 1. 光學(xué)放大

- 光學(xué)系統(tǒng)：利用透鏡和反射鏡放大被測軸的影像，便于觀察和測量。

- 放大倍數(shù)：通常為10倍至100倍，確保微小尺寸變化清晰可見。

 2. 機(jī)械測量

- 測頭接觸：測頭與被測軸表面接觸，軸徑變化會使測頭產(chǎn)生微小位移。

- 位移傳遞：測頭的位移通過機(jī)械杠桿傳遞到光學(xué)系統(tǒng)的反射鏡。

 3. 光學(xué)信號轉(zhuǎn)換

- 反射鏡偏轉(zhuǎn)：測頭位移導(dǎo)致反射鏡偏轉(zhuǎn)，改變光路。

- 影像位移：反射鏡偏轉(zhuǎn)使影像在目鏡或顯示屏上發(fā)生位移。

 4. 測量讀數(shù)

- 刻度讀取：通過目鏡或顯示屏上的刻度讀取影像位移量。

- 計算軸徑：根據(jù)位移量和光學(xué)系統(tǒng)的放大倍數(shù)，計算出軸徑的實(shí)際尺寸。

 5. 數(shù)據(jù)處理

- 數(shù)據(jù)記錄：記錄測量結(jié)果，進(jìn)行必要的數(shù)據(jù)處理和分析。

- 誤差校正：根據(jù)系統(tǒng)誤差和環(huán)境因素進(jìn)行校正，確保測量精度。

 優(yōu)點(diǎn)

- 高精度：光學(xué)放大和機(jī)械測量結(jié)合，精度可達(dá)微米級。

- 非接觸測量：減少對被測軸的損傷，適合高精度工件。

 應(yīng)用

- 精密制造：用于高精度軸類零件的檢測。

- 質(zhì)量控制：在生產(chǎn)過程中實(shí)時監(jiān)控軸徑尺寸，確保質(zhì)量。

 總結(jié)

立式光學(xué)計通過光學(xué)放大和機(jī)械測量相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)高精度軸徑測量，廣泛應(yīng)用于精密制造和質(zhì)量控制領(lǐng)域。