?金相顯微鏡IE200M概覽

金相顯微鏡采集系統IE200M是一款專業用于金相分析的顯微鏡系統，其主要特點和相關信息可以歸納如下：

1.品牌與型號：

A.品牌：不同廠商可能有自己的品牌，例如舜宇、濟南禾普等。

B.型號：IE200M

2.主要用途：廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。

3.技術規格：

A.調焦機構：高精度粗微動調焦機構，左右側均可調節，微調精度高，手動調節簡單方便。

B.移動平臺：大尺寸機械移動平臺，如180×155mm的面積，便于用戶操作過程中的調焦機構與平臺移動的操作切換。

C.光學系統：采用有限遠色差光學系統，提供清晰的圖像質量。

D.觀察筒：通常為45°傾斜，三目觀察筒，具有瞳距調節范圍和分光比等參數。

E.目鏡與物鏡：配備多種目鏡和物鏡選項，如PL10X/18mm、WF15X/13mm等高眼點大視野目鏡，以及長工作距平場消色差金相物鏡（5X、10X、20X、50X、100X）。

4.照明系統：采用落射式柯拉照明系統，帶可變孔徑光欄和中心可調視場光欄，光源可選單顆5W暖色LED燈或6V30W鹵素燈，光強連續可調。

5.攝影攝像：配備專業的攝影攝像附件，如0.5X/1X攝像接筒，C型接口，可調焦等，滿足圖像采集和分析的需求。

6.其他特點：

A.配備起偏鏡插板、固定式檢偏鏡插板、360°旋轉式檢偏鏡插板、濾色片組等附件，以及高精度測微尺等測量工具。

B.適用于各種金屬和合金材料的組合結構鑒別和分析，尤其在鋼鐵、有色金屬材料、鑄件、鍍層的金相分析等領域有廣泛應用。

7.售后服務：不同廠商提供的售后服務政策可能有所不同，但通常包括保修期、免費培訓、保內維修承諾等。

請注意，以上信息可能因不同廠商和具體產品而有所差異。在選擇金相顯微鏡采集系統IE200M時，建議詳細了解具體產品的技術規格和售后服務政策，以確保滿足您的實際需求。